Феном (электронды микроскоп) - Phenom (electron microscope)
 | Бұл мақалада бірнеше мәселе бар. Өтінемін көмектесіңіз оны жақсарту немесе осы мәселелерді талқылау талқылау беті. (Бұл шаблон хабарламаларын қалай және қашан жою керектігін біліп алыңыз) (Бұл шаблон хабарламасын қалай және қашан жою керектігін біліп алыңыз)
|
Құбылыс бұл үстелдің үстіңгі өлшемі электронды микроскопты сканерлеу (SEM) бастапқыда Philips және FEI әзірледі, әрі қарай Phenom-World әзірледі. Микроскопта оптикалық және электронды-оптикалық бейнелердің тіркесімі бар; оптикалық кескін «Neverlost» функциясын қосады, сондықтан операторлар үлгінің кез келген нүктесіне өтуі мүмкін. Үлгіні жүктеу 4 секундта (CMOS шолу кескінін алу үшін) және жылдам беру технологиясы арқылы вакуумдық кеңістікке тек 30 секундта жүзеге асырылады (әдеттегі жүктеме құлпы жоқ). Жүйенің пайдаланушы интерфейсі сенсорлық экранда басқарылады, пайдаланушылар үшін 15 нм дейінгі ажыратымдылықпен 100000 есеге дейін үлкейтуге қол жеткізу үшін SEM тәжірибесі қажет емес.[дәйексөз қажет ]Қосымша толық интеграцияланған рентгендік талдау жүйесі (ЭСЖ) пайдаланушыға бірнеше секунд ішінде үлгі неден құралғанын көрсетеді.
галерея
Феноммен бейнеленген жеміс шыбынының аяғы. Көру аймағы 101 мм.
Диатомдар феноммен бейнеленген. Көру аймағы 50 мм.
Сыртқы сілтемелер
- АҚШ патенті № 7906762 - Компакт-сканерлейтін электронды микроскоп
- Жариялау: Жүйелік зерттеулер форумы (SRF) Vol. Стивенс технологиялық институтының 1 (2006)
 | Бұл ғылыми мақала а бұта. Сіз Уикипедияға көмектесе аласыз оны кеңейту. |